Kính hiển vi quét laser 3D
Sê-ri VK-X3000
Kính hiển vi quét laser 3D Sê-ri VK-X3000
Mới Nay được trang bị giao thoa ánh sáng trắng, đo từ nanomet đến milimet
Tích hợp ba nguyên lý Laser - Giao thoa ánh sáng trắng - Biến thiên tiêu điểm
- Đo các mục tiêu từ nanomet đến micromet và milimet
- Thực hiện các phân tích khác nhau chỉ với một thiết bị
- Độ phân giải 0,01 nm tốt nhất trong phân khúc
Sê-ri VK-X3000 sử dụng phương pháp quét ba nguyên lý để cho phép đo bất kỳ mục tiêu nào. Các phương pháp quét giao thoa ánh sáng trắng, biến thiên tiêu điểm và đồng tiêu laser được sử dụng tùy theo tình huống, đảm bảo đo lường và phân tích chính xác cao đối với bất kỳ mục tiêu nào. Phương pháp quét ba nguyên lý mang lại khả năng thích ứng chưa từng có, cho phép hệ thống đạt được độ phân giải 0,01 nm để xác định những bất thường bề mặt nhỏ nhất trên mục tiêu phẳng, đồng thời cũng mang lại sự linh hoạt để đo các mục tiêu có sự thay đổi độ cao lớn trên các vùng rộng đến 50 × 50 mm. Với khả năng thực hiện chụp ảnh màu độ phóng đại cao, đo mặt cắt ngang không phá hủy và phân tích đặc tính bề mặt tiên tiến, máy đo biên dạng bề mặt 3D VK-X3000 là hệ thống được tin dùng hàng đầu cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu và phát triển cũng như các phòng thí nghiệm chất lượng.
Các đặc điểm nổi trội
Đặc điểm cơ bản
Quan sát
Phạm vi bao phủ độ phóng đại rộng trong một thiết bị
- Độ phóng đại 42× đến 28800×
- Lấy nét tự động
- Quan sát bất kỳ vật liệu nào
Đo lường
Quét bề mặt tức thì, không tiếp xúc
- Không làm hỏng mục tiêu
- Đo lường độ chính xác cấp nano
- Tương thích với mọi hình dạng hoặc vật liệu
Phân tích
Đặc điểm bề mặt chưa từng có
- Định lượng ngay cả những hình dạng chi tiết nhất
- Phân biệt các bề mặt một cách dễ dàng
- Phân tích độ nhám
Phương pháp quét ba nguyên lý cho phép đo bất kỳ mục tiêu nào
Có thể đo lường độ chính xác cao cho mọi mục tiêu thông qua việc sử dụng ba nguyên lý đo lường khác nhau: đồng tiêu laser, giao thoa ánh sáng trắng và biến thiên tiêu điểm.
Độ phân giải 0,01 nm tốt nhất trong phân khúc
Đo lường chính xác những thay đổi nhỏ về hình dạng ở cấp độ nano.
Ngay cả những vật liệu khó đo như bề mặt trong suốt hoặc phản xạ gương cũng có thể đo được.
Độ phân giải nanomet trên toàn bộ mục tiêu
Có thể quét các vùng lên đến 50 × 50 mm, do đó toàn bộ bề mặt của mẫu có thể được đo và phân tích.
Đo cả bề mặt phẳng và bề mặt không bằng phẳng
Các phép đo milimet, micromet và nanomet trong cùng một thiết bị.