Phương pháp thu phát độc lập quang học
Sê-ri LS

Sê-ri LS

Vị trí bề mặt trên của đối tượng sẽ được đo bằng phương pháp thu phát độc lập quang học.
Có thể đo ổn định với độ chính xác cao bằng cách sử dụng các loại thu phát độc lập, ngay cả đối với các sản phẩm tròn có độ lệch. Có thể thực hiện đo cho cả đối tượng trong suốt.

Ưu điểm lựa chọn

  • Đo ổn định với độ chính xác cực cao
  • Phương pháp đo nhanh, không tiếp xúc
  • Có thể đo các mục tiêu trong suốt
Sê-ri LS-7000
Trắc vi kế quang học tốc độ cực cao
Sê-ri LS-7000